Rentgenový fluorescenční spetrometr SPECTRO Xepos P

Simultánní energiově-disperzní rentgenový fluorescenční spektrometr XEPOS P (AMETEK Materials Analysis Division) umožňuje identifikaci prvků v rozsahu Na – U a multiprvkovou nedestruktivní semikvantitativní a kvantitativní analýzu u různých typů látek s neznámou matricí (kromě plynných). Budicí záření je generováno nízkovýkonovou rentgenkou s Pd/Co anodou chlazenou vzduchem a adaptováno podle stanovovaných skupin prvků. Charakteristické fluorescenční záření je zpracováváno termoelektricky chlazeným SDD detektorem, měřicí prostor je při stanovování lehkých prvků proplachován heliem. Přístroj je vybaven karuselem pro 12 kyvet s průměrem 32 mm, je však možné měřit i velké vzorky.
Umístění
Další instrumenty z této kategorie
Spectro ARCOS SOP (AMETEK Materials Analysis Division) je optický emisní spektrometr s radiálním pozorováním indukčně vázaného plazmatu. Přístroj je vybaven optikou v Paschenově-Rungeho montáži s využitím optimalizované Rowlandovy kružnice osazené 32 lineárními CCD detektory. Optika přístroje je hermeticky uzavřená a naplněná argonem. To umožňuje dosažení vysoké optické propustnosti ve vakuové UV oblasti umožňující stanovení nekovů a využití prominentních čar prvků v této oblasti bez interferencí. Přístroj umožňuje simultánní snímání spektra v oblasti vlnových délek 130 až 770 nm popř. zpracování rychlého tranzientního signálu (10 Hz). V případě přítomnosti dalšího prvku kromě očekávaných je možné jej dodatečně identifikovat a stanovit bez nutnosti provádět nové měření. Přístroj je spojen se zařízením pro elektrotermickou vaporizaci (ETV).


Spectro ARCOS MultiView (AMETEK Materials Analysis Division) je optický emisní spektrometr s možností plnohodnotného radiálního nebo axiálního pozorování indukčně vázaného plazmatu, což umožňuje jak analýzu těžkých matric, tak stopovou analýzu s detekčními limity v oblasti 10-2 – 10-7 mg/kg podle citlivosti jednotlivých prvků. Přístroj s optikou v Paschenově-Rungeho montáži umožňuje simultánní snímání spektra v oblasti vlnových délek 130 až 770 nm popř. zpracování rychlého tranzientního signálu. Spektrometr je vybaven robustním generátorem pracujícím v oblasti výkonu 500 – 2000 W. V případě přítomnosti dalšího prvku kromě očekávaných je možné jej dodatečně identifikovat a stanovit bez nutnosti provádět nové měření.

ETV 4000c (Spectral Systems, Fürstenfeldbruck, SRN) je jednotka pro elektrotermické odpařování vzorků. Srdcem jednotky je vodou chlazená grafitová pícka spojená PTFE trubicí s ICP-OES. Pícka je v řízeném teplotním programu schopná dosáhnout teploty až 3000 °C, teplota je neustále sledována zabudovaným pyrometrem. Pícka pracuje v argonové atmosféře, proud argonu odnáší páry a suchý aerosol vznikající odpařováním vzorku do ICP-OES. Do nosného proudu argonu je pro převod prvků do těkavějších forem přidáváno malé množství CCl2F2 (freon R12). Jednotka je vybavena autosamplerem s 50 pozicemi, což velmi usnadňuje analýzy větších sérií vzorků. Průtoky argonu i freonu jsou regulovány elektronicky řízenými ventily. Jednotka je přes počítač spojena s ICP-OES, sběr dat je tak synchronizován s činností pícky.
